张玺
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资料介绍
个人简历
教育经历: 2006年,上海交通大学,机械工程及自动化,工程学士学位2006年,上海交通大学,工商管理,管理学第二学士学位2009年12月,美国南佛罗里达大学,工业管理与系统工程,博士学位 背景资料:2006年,上海交通大学,机械工程及自动化,工程学士学位2006年,上海交通大学,工商管理,管理学第二学士学位2009年12月,美国南佛罗里达大学,工业管理与系统工程,博士学位 获得荣誉:美国国家科学基金NSF CMMI Graduate Student Travel Grant, 2009上海交通大学飞利浦亚明奖学金, 2005上海交通大学优秀学生, 2005上海交通大学优秀学生奖学金, 2003-2005研究领域: 主要从事对复杂系统的过程建模和质量监控、生产系统中的数据挖掘、诊断和可靠性分析,以及其工业中应用的研究工作。研究成果在先进制造系统、公共医疗系统等领域得到良好应用,并在国际著名学术刊物IEEE Transaction发表多篇论文。研究领域
从事对复杂系统的过程建模和质量监控、生产系统中的数据挖掘、诊断以及其工业中应用的研究工作。"研究领域: 主要从事对复杂系统的过程建模和质量监控、生产系统中的数据挖掘、诊断以及其工业中应用的研究工作。"近期论文
学术期刊论文:· Zhang, X., Huang, Q., 2010, “Analysis of Interaction Structure among Multiple Functional Process Variables for Process Monitoring in Semiconductor Manufacturing”, IEEE Transactions on Semiconductor Manufacturing, vol. 23 (2), pp.263-272.· Zhang, X., Wang, H., Huang, Q., Kumar, A., and Zhai, J., 2009, “Statistical and Experimental Analysis of Correlated Time-varying Process Variables for Condition Diagnosis in Chemical-Mechanical Planarization”, IEEE Transactions on Semiconductor Manufacturing, vol. 22 (3), pp.512-521.· Wang, H., Zhang, X., Kumar, A., Huang, Q., 2009, “Nonlinear Dynamics Modeling of Correlated Functional Process Variables for Condition Monitoring in Chemical-Mechanical Planarization”, IEEE Transactions on Semiconductor Manufacturing, vol.22, pp. 188-195.学术兼职:Reviewer:International Journal of Modeling, Identification and ControlJournal of Manufacturing Systems 相关热点