赖李洋
近期热点
资料介绍
个人简历
教育背景·博士,UniversityofIllinoisatUrbana-Champaign(美国),电子工程·硕士,中国科学院微电子所,微电子学·学士,北京大学,计算机系微电子学工作背景博士毕业后,在美国MentorGraphics公司和CalyptoDesignSystems公司工作了10余年。主要从事芯片可测试性设计,验证,故障诊断,及高层综合的研究。拥有完整的VLSI测试从前端(设计)到后端(故障诊断),以及良率分析的业界经验。完成了多项业界领先的研究成果,应用于世界主要半导体公司的芯片设计和制造中。曾获多项美国专利,及2006年国际测试大会NedKornfield最佳论文奖。2015回国加盟汕头大学电子系。近期论文
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