陈卓俊
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资料介绍
个人简历
教育背景 2008年09月-2012年07月:湘潭大学,微电子学专业,工学学士 2012年09月-2017年07月:中国科学院上海微系统与信息技术研究所,微电子学与固体电子学,工学博士,导师:邹世昌院士 工作履历 2017年07月-至今:湖南大学,物理与微电子科学学院,助理教授研究领域
高可靠、高速、低功耗集成电路设计 高压、高速ESD防护器件设计 新型器件的仿真与建模近期论文
1. Chen, Zhuojun ; Ding, Ding; Dong, Yemin; Shan, Yi; Zhou, Shuxing; Hu, Yuanyuan; Zheng, Yunlong; Peng, Chao; Chen, Rongmei, Study of Total-Ionizing-Dose Effects on a Single-Event-Hardened Phase-Locked Loop, IEEE Transactions on Nuclear Science, 2018. 2. Chen, Zhuojun ; Lin, Min; Ding, Ding; Zheng, Yunlong; Sang, Zehua; Zou, Shichang, Analysis of Single-Event Effects in a Radiation-Hardened Low-Jitter PLL Under Heavy Ion and Pulsed Laser Irradiation, IEEE Transactions on Nuclear Science, 2017, 64(1): 106~112. 3. Chen, Zhuojun ; Lin, Min; Zheng, Yunlong; Wei, Zuodong; Huang, Shuigen; Zou, Shichang, Single-Event Transient Characterization of a Radiation-Tolerant Charge-Pump Phase-Locked Loop Fabricated in 130 nm PD-SOI Technology , IEEE Transactions on Nuclear Science, 2016, 63(4): 2402~2408. 4. Chen, Zhuojun ; Xiao, Yongguang; Tang, Minghua; Xiong, Ying; Huang, Jianqiang; Li, Jiancheng; Gu, Xiaochen; Zhou, Yichun, Surface-Potential-Based Drain Current Model for Long-Channel Junctionless Double-Gate MOSFETs , IEEE Transactions on Electron Devices, 2012.12, 59(12): 3292~3298. 5. Xiao, Yongguang; Chen, Zhuojun; Tang, Minghua; Tang , Zhenhua; Yan, Shaoan; Li, Jiancheng; Gu, Xiaochen; Zhou, Yichun; Ouyang, Xiaoping, Simulation of Electrical Characteristics in Negative Capacitance Surrounding-Gate Ferroelectric Field-Effect Transistors , Applied Physics Letters, 2012.12.17, 101(25).标签: 湖南大学 物理与微电子科学学院
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