个人简历

多年来一直从事固体光学性质和光谱技术研究，主持和参与近20项包括自然科学基金项目在内的国家及地方项目，其中已主持4项国家自然科学基金项目，1项上海市自然科学基金重点项目和1项教育部新世纪人才基金项目。已发表SCI论文70多篇，引用200余次。已获授权6项发明专利和4项实用新型专利。主编“十一五”国家级规划教材《近代光学》，已于2011年1月由电子工业出版社出版。 教育经历 1993－1996：复旦大学；理学博士。 1990－1993：西安交通大学；工学硕士。 1986－1990：西安交通大学；工学学士。. 工作经历 2006－至今：复旦大学，教授, 博导（2008年始）。 1996－2006：复旦大学，讲师，副教授。 1999－2001：日本大学，博士后；研究员。

研究领域

(1)光电子薄膜材料的光学与磁光性质研究； (2)先进光谱技术研究； (3)光学薄膜的表征与制备。

近期论文

D. X. Zhang，Y. X. Zheng，Q. Y. Cai ，W. Lin，K. N. Wu，P. H. Mao，R. J. Zhang，H. b. Zhao，L. Y. Chen，“Thickness-dependence of optical constants for Ta2O5 ultrathin films”，Appl. Phys. A，DOI 10.1007/s00339-012-7007-2(2012)。 Q. Y. Cai, Y. X. Zheng, D. X. Zhang, W. J. Lu, R. J. Zhang, W. Lin, H. B. Zhao, L. Y. Chen, “Application of image spectrometer to in situ infrared broadband optical monitoring for thin film deposition”, Opt. Express 19, No. 14, 12969(2011). Q. Y. Cai, Y. X. Zheng, P. H. Mao, R. J. Zhang, D. X. Zhang, M. H. Liu and L. Y. Chen, “Evolution of optical constants of silicon dioxide on silicon from ultrathin films to thick films”, J. Phys. D: Appl. Phys. 43, 445302(2010). Y. Zhao, M. Y. Sheng, Y. X. Zheng, M. Xu, H. B. Zhao, L. Y. Chen, “Lateral shift effect on the spatial interference of light wave propagating in the single-layered dielectric film”, Opt. Express 18, 10524 (2010). P. H. Mao, Y.X. Zheng, Y. R. Chen, Q. Y. Cai, R. J. Zhang, L. Y. Chen,“Study of the new ellipsometric measurement method using integrated analyzer in parallel mode”,Opt. Express 17 ( 10 ) , 8641(2009). R.J. Zhang, Y. M. Chen, W.J. Lu, Q. Y. Cai, Y.X. Zheng, L.Y. Chen,“Influence of nanocrystal size on dielectric functions of Si nanocrystals embedded in SiO2 matrix”,Appl. Phys. Lett. 95, 16: 161109 (2009). M. Y. Sheng, Y. H. Wu, S. Z. Feng, Y. R. Chen, Y. X. Zheng, and L. Y. Chen, “Spatial effect on the interference of light propagated in a film structure”, Appl. Optics 46 (28): 7049-7053 (2007). Y.X. Zheng, J.H. Qiu, S. Y. Wang, and L. Y. Chen,“A Numerical Method in Optimizing the Structure of a Magneto-optical Disk”, J. Korean Phys. Soc 46: S260 (2005). Y. X. Zheng, R. J. Zhang and L. Y. Chen, “Ellipsometry and Its Applications in Stoichiometry”, Chapter 3 in: Stoichiometry and Materials Science - When Numbers Matter, Edited by Alessio Innocenti and Norlida Kamarulzaman, , ISBN 978-953-51-0512-1, InTech — Open Access Company, April 11, 2012.